基本信息
| 标准名称： | 实验二极管结构与工艺 |
| 英文名称： | Structure and technology of test diode |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体二极管 |
| 发布部门： | 中华人民共和国第四机械工业部 |
| 发布日期： | 1979-07-01 |
| 实施日期： | 1979-07-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 出版社： | 中国电子工业出版社 |
| 出版日期： | |
| 页数： | 37页 |
适用范围
本标准规定了板耗不大于5W、嵌缝结构、旁热式阴极，平板型实验二极管的结构、工艺和实验方法。只要用于鉴定阴极材料及工艺对发射性能的寿命的影响。
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所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体二极管