ASTM F 1392-2002 用带汞探针的电容-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
时间:2024-05-20 02:22:19 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8725
【英文标准名称】:StandardTestMethodforDeterminingNetCarrierDensityProfilesinSiliconWafersbyCapacitance-VoltageMeasurementsWithaMercuryProbe
【原文标准名称】:用带汞探针的电容-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1392-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;试验;材料;电子工程
【英文主题词】:materials;electronicengineering;testing;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 压电陶瓷材料等静压压电应变常数dH测量方法 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
电子元件 >>
石英晶体、压电元件 |
| ICS分类： |
玻璃和陶瓷工业 >>
陶瓷 >>
高级陶瓷
|
| 替代情况： | 根据压电陶瓷材料检测中心——721 厂的意见，该中心没有此项目检测设备，也不进行这项检测，因此，建议废止。 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 1994-07-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 出版日期： | |
| 页数： | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元件 石英晶体 压电元件 玻璃和陶瓷工业 陶瓷 高级陶瓷
基本信息
| 标准名称： | 热导式氢分析器检定规程 |
| 英文名称： | Thermal Conductivity Hydructivity Hydrogen Analyzer |
| 中标分类： |
综合 >>
计量 >>
化学计量 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 1991-03-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 归口单位： | 上海市技术监督局 |
| 起草单位： | 上海市测试技术研究所 |
| 起草人： | 史国豪、郑吉园 |
| 出版社： | 中国计量出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-19 |
| 页数： | 14页 |
| 书号： | 155026-331 |
适用范围
本规程适用于新制造、使用中和修理的测量范围为氢气浓度最小从0~2%至最大0~100%之间各量程的热民导式氢分析器的检定。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 综合 计量 化学计量